阻抗分析儀介電及薄膜測(cè)試治具

阻抗分析儀介電及薄膜測(cè)試治具：

1J1020測(cè)試治具配合WK6500B系列精密阻抗分析儀或者在WK6500P高頻LCR表上使用，最高頻率可達(dá)40MHz。

夾具設(shè)計(jì)用于夾持平面圓盤狀材料，材料直徑不小于38mm，厚度不大于15mm。

1J1020夾具的兩端電極之間的間距是可調(diào)整的，并通過千分尺測(cè)量。

頻率范圍：20Hz~40MHz

WK6500B系列阻抗分析儀產(chǎn)品特點(diǎn)：

·         簡(jiǎn)易的TFT觸屏操作，10分鐘內(nèi)輕易上手

·         電介質(zhì)、壓電片及石英晶體測(cè)試解決方案

·         30 msec超高速測(cè)試速度

·         等效Rdc 可高度四線式測(cè)試，量測(cè)到0.01mohm

·         0.05%基本精度

·         可內(nèi)建1Amp 或 2Amp DC Bias，外加達(dá)到40Amp DC Bias

·         可將測(cè)試波形儲(chǔ)存成CSV格式，放大、縮小及MARKER功能

·         20Hz~120MHz，七種機(jī)型，可隨時(shí)升級(jí) ，達(dá)升級(jí)到120MHz

·         直覺的用戶操作介面，USB、LAN、GPIB及HANDLER

·         可使用滑鼠及鍵盤操控，也可外接印表機(jī)及使用USB介面儲(chǔ)存資料

·         具等效電路模擬功能，內(nèi)建同頻率LCR Meter一

測(cè)試參數(shù):

電容(C), 電感(L), 電阻(R), 電導(dǎo)(G), 電納(B), 電抗(X), 消耗因素(D), 品質(zhì)因素(Q), 阻抗(Z), Y參數(shù)(Y), 相位角(?)

高精度量測(cè)：

電容,電感及阻抗基本精度為±0.05%.消耗因素精度為±0.0005及品質(zhì)因素精度為±0.05%.

元件圖形掃描

6500系列精密阻抗分析儀不僅提供高頻率,高精度的量測(cè). 該設(shè)備還是一個(gè)包含豐富特性的元件分析儀.
圖形掃描可依據(jù)頻率, 驅(qū)動(dòng)值及直流偏壓源同時(shí)在高清晰,大型彩色顯示幕上顯示任意兩種參數(shù)的圖形.
顯示格式包括 串聯(lián) 或并聯(lián)等同電路和兩極形式.單測(cè)某一頻率時(shí)可以從圖形掃描轉(zhuǎn)換成標(biāo)準(zhǔn)電表讀值模式.

 
可變的輸出和偏壓源

交流輸出可選高達(dá)1伏或20mA,實(shí)現(xiàn)在真實(shí)操作環(huán)境中來評(píng)估元件.可變偏壓直流源可提供達(dá)100mA的電流.

外部控制

在品管或制作檔譜的過程中可通過 GPIB介面來控制儀器和收取讀值.
網(wǎng)端介面也具有同樣的控制儀器和傳輸資料的功能 – 使儀器能適應(yīng)許多不同的測(cè)試環(huán)境.

多選擇的介面

VGA介面可連接到PC顯示器或投影機(jī), 這種功能為生產(chǎn)環(huán)境或教學(xué)培訓(xùn)都提供無法衡量的價(jià)值. 本機(jī)還可通過外接鍵盤和滑鼠來操控,任何PS2或USB鍵盤和滑鼠都能簡(jiǎn)單的接插到系統(tǒng)中, 提供控制和操作儀器的另一種可行方式.

資料儲(chǔ)存和提取

所有的測(cè)試結(jié)果及設(shè)制都可以通過網(wǎng)路介面或USB閃盤來儲(chǔ)存.

分類處理介面

Bin Handler 為可選設(shè)制, 通過25相D型接頭提供獨(dú)立(24V)和非獨(dú)立(5V)的信號(hào).

印表機(jī)輸出

測(cè)試結(jié)果可通過幾種不同的途經(jīng)列印出,其中包括直接列印至HP-PCL匹配的圖形印表機(jī), EPSON相匹配的文字印表機(jī)或直接通過儀器的網(wǎng)口經(jīng)局域網(wǎng)列印.

待測(cè)元件連接

可通過面板的BNC接頭來實(shí)現(xiàn)倆端,三端或四埠的連接以及可能的接地狀況.備有許多的可選附件以供不同的測(cè)試需要.

充電電容保護(hù)

高精密的測(cè)試儀器可能在使用過程中被已充電的電容裝置所損壞,造成昂貴的維修及不必要的停產(chǎn). 6500系列有內(nèi)置的保護(hù)來避免這種情況發(fā)生.

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